RayScan Smart-X射线断层摄影测量系统

RayScanSmart是适用于各种无损检测及尺寸测量应用的3维微处理计算机控制X射线断层摄影测量系统

X射线源

射线光源电压可达200kV

焦点直径小至5μm

X射线探测器

RayScanSmart3D工业CT装备了平板探测器、微焦点X射线源以及紧凑的机械结构，由于具备以上高效且高分辨率的基础，就使其可对不同类型的物体进行分析

平板探测器像素数可达12MPix

像素间距小至50μm

进行单独一次扫描获得的体积数据能够对各种不同的评价内容提供支持，如材料内部的无损检测，装配位置及漏装元器件检测，坐标位置测量，实际结果与数模的比对等而其所产生的表面数据也能够对逆向工程和3D打印提供支持